さらにSEMは焦点深度が深いため、広範囲に焦点があった立体的な像を得ることができます。 一方短所としては、画像がモノクロのため、カラーでの観察や色の違いの比較はできません。 観察する際には、試料を入れる場所を真空状態しないといけないため、一般的には真空状態にできない物質は観察することは困難になります。共分散構造分析（SEM：Structural Equation Modeling）は共分散と呼ばれる数値を利用して、互いに関連を持つ複数の要素間の関係性やその程度をモデル化する分析です。 共分散構造分析によって今まで複雑でよく分からなかったデータ同士の関係性が、ひと目で理解することができるようになります。SEMは導電性がないと観察できない。
SEMで真空が必要な理由は？電子源から発生した電子がガス分子と衝突しないで試料に到達するには、10-2 ～10-3Pa の真空が必要である。 そのため、SEM の本体は真空ポンプで真空状態に保ち、観察試料も真空状態で壊れないように水分を除去する等の前処理を行う。 また電子線照射で帯電しないように、試料表面に導電性を与える前処理も行われる。
SEMの問題点は？
個人的にも、SEMを行う際のチェックリストとしても活用できそう、と感じました。
- 因果に関する誤った認識
- 誤差間共分散の多用（乱用）
- 甘い適合度指標に依存
- 懸垂項目数
- 構造同値問題
- 論文での報告不足
- 測定モデルと構造モデルを分離して2段階で分析していない
しかし低真空モードにもデメリットがあり ます。 主なデメリットは、 ・ ノイズが多く像がざらついた感じになる ・ 二次電子像による観察ができない(立体感 に乏しい) ・ 元素分析時に、分析対象以外の領域に存 在する元素まで検出してしまう などです。
SEMの簡単な原理は？
SEMの基本原理は、高速で加速された電子ビームが試料表面に照射され、試料表面から反射・散乱された電子が検出器に到達することにより、試料表面の形態や微細構造を観察するというものです。 電子ビームは高エネルギーであるため、試料表面に照射されると電子雲を形成し、その中で原子や分子が励起されて反応を起こすことがあります。
SEMの主な目的は、指定したキーワードを検索したユーザーがウェブサイトにすぐにアクセスできるようにすることです。 通常、広告はペイ・パー・クリック（PPC）形式で運用され、企業はユーザーが広告をクリックするごとに料金を支払います。
SEMとTEMの原理の違いは何ですか？
SEMとTEMって何が違うの？ SEMは、試料表面に電子線を走査させることで、そこから発生する様々な情報を取得できる装置です。 具体的には、試料表面の凹凸や化学組成などを知ることができます。 TEMは，試料を透過した電子線を利用して、試料内部の情報を得る装置です。チャージアップとは、主に SEM で絶縁物試料を観察している際に試料表面が帯電して適切な像や分 析結果が得られなくなる現象である。 この現象は入射した電子線と試料から励起される二次電子の量 の不釣り合いが原因となって現れる。価格は39,000,000円～。 走査電子顕微鏡（SEM）はナノテクノロジー，金属，半導体，セラミックスや医学・生物学の分野など，様々な分野で活用され，益々その用途を広げているという。
高真空ＳＥＭは試料帯電を防止するため、金属蒸着などが必要になりますが低真空ＳＥＭ は試料室のガスにより（ガス分子による電子の中和現象）試料が帯電しないため金属蒸 着無しでさまざまな試料を観察出来ます。 成分分析（低真空ＳＥＭ観察からそのまま元素分析が可能です！）
高真空SEMと低真空SEMの違いは何ですか？高真空 SEM では、有機物、プラスチックの観察 には金属蒸着が必要であり、水分・油分を含む材 料は観察できません。 低真空 SEM では、これらの 材料の観察を無蒸着で行えることが最大の特長で あり、絶縁材料、半導体、食品、生体材料、生物材 料などの観察に幅広く利用されています。
光学顕微鏡とSEMの違いは何ですか？SEMは光学顕微鏡に比べ分解能が非常に高いという特徴をもつ． この理由として光学顕微鏡が可視光線を試料に照射して拡大した像を観察するのに対し，SEMでは電子ビームを試料に照射して拡大した像を観察している点が挙げられる． 光学顕微鏡の場合，分解能は可視光線の波長に限界があるため理論的に100ナノメートル程度に制限される．
SEMでチャージアップするとどうなる？
※チャージアップ… 非導電性試料を観察したときに起きる現象． 帯電の影響によって試料に入射する電子ビームが偏向されて像が歪むことや，試料から放出されて検出器に入射する二次電子の軌道が変わることで，不安定な異常コントラストが起きることがある．
SEMとTEMって何が違うの？ SEMは、試料表面に電子線を走査させることで、そこから発生する様々な情報を取得できる装置です。 具体的には、試料表面の凹凸や化学組成などを知ることができます。 TEMは，試料を透過した電子線を利用して、試料内部の情報を得る装置です。走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）とは、電子線を試料表面に照射し、生じる二次電子や反射電子を検出することで、試料表面形状や微細構造を高分解能で観察するための顕微鏡です。透過電子顕微鏡法(TEM)は、試料に電子ビームを照射し、透過した電子を結像して拡大像を得る装置です。 TEMの特徴は高い空間分解能にあり、サブマイクロ~原子分解能レベルの調査に威力を発揮します。 転位をはじめとする格子欠陥の観察や、微小な個々の析出物に対して電子回折による結晶構造解析が可能です。